出自:无损探伤工

超声波倾斜入射到异质界面时，同种波型的反射角等于入射角
对于非铁磁性材料制成的零件检查表面裂纹时，最优先考虑的无损检测方法是PT。
射线照相底片的检测灵敏度取决于底片的（）。
A:对比度
B:清晰度
C:a和b
D:以上都不是
θ≈57λ/2a为（）的公式。
A:圆晶片半扩散角
B:方晶片半扩散角
C:反射角
D:折射角
超声波倾斜入射到（）时，将产生反射纵波，由于波型转换，又会产生反射横波。
用直接通电法时，触头前加铜垫、铝锡合金或金属丝编织网带后再与工件接触通电，是为了（）。
A:使接触点电阻增加
B:在工件中获得较高的磁场
C:增加表面接触面积，避免接触点高温而烧坏试件表面
D:避免因发热而引起的导磁不良
漏磁探伤通常检测（）mm以上的表面缺陷。
双相钢是（）的机械混合物。
A:铁素体加奥氏体
B:铁素体加莱氏体
C:铁素体加珠光体
D:珠光体加奥氏体
当使用磁化线圈或电缆缠绕法时，磁场强度与电流成正比，与被检截面厚度无关。（）
超声仪中使用校准过的衰减器的目的是控制探头角度。
当X或γ射线源移去以后工件不再受辐射作用，工件本身也就没有辐射。
管电压越高，x射线转换效率越低。（）
铁磁介质的磁导率是磁场强度的（）。
A:常数
B:非线性函数
C:代数和
D:矢量和
采用底波高度法（F/B百分比法）对缺陷定量时，下面说法正确的是（）。
A:F/B相同，缺陷当量相同
B:该法不能给出缺陷的当量尺寸
C:适于对尺寸较小的缺陷定量
D:适于对密集性缺陷的定量
底片的黑度取决于辐射强度和曝光时间的乘积，该反比定律在（）下失效。
A:射线直接曝光
B:采用荧光增感
C:采用铅箔增感
D:以上都不对
物质吸引其它物质的能力与（）因素有关。
A: 磁场强度
B: 磁性
C: 矫顽力
D: 磁极强度
CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目的是（）
A:测定斜探头K值
B:测定直探头盲区范围
C:测定斜探头分辨率
D:以上全部
用对数表示两个拟比声强的比值，再取以（）为底的常用对数得到声强级。
乳化剂是用来乳化油溶性渗透液的，使之能被水洗掉。
脉冲超声波探伤仪的脉冲重复频率和（）有关。
A:报警电路
B:接收电路
C:同步电路
D:时基电路
下述 （）是底片处理中影响定影过程的主要因素。
A: 定影液温度
B: 定影时间
C: 定影液的老化程度
D: 以上都是
声束集中向一个方向辐射的性质叫做声束的（）。
A:指向性
B:近场区
C:振速
D:入射
焊缝金属的二次结晶的组织和性能与（）有关。
A:焊缝的淬透性
B:焊缝的抗氧化性
C:焊缝的抗氢腐蚀能力
D:焊缝的化学成份、冷却速度及焊后热处理
所谓的（）是指在探伤面上施加磁悬液处的浓度。
进行荧光渗透探伤时，黑光灯的强度校验应在（）进行。
A:每8min
B:工作区域改变时
C:更换灯泡时
D:A、B和C
（）是晶片尺寸和介质中波长的函数。它随频率的增加、晶片直径的减小而增大。
对显影液添加补充液时，一般在添加的补充液量达到原来显影液量的4倍时（）。
A:应继续添加补充液
B:该显影液应该报废，而不应无限制地添加补充液
C:无影响
D:以上都不对
超声波检测频率越高，则（）。
A:波长短
B:声束窄
C:能量集中
D:以上都对
计算锻件缺陷当量时，当材质衰减系数超过（）时，应考虑修正。
X射线也叫伦琴射线，是由（）辐射产生的。
A: 韧致
B: X射线
C: γ射线
D: α射线
首页 <上一页 78 79 80 81 82 下一页> 尾页