CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目的是（）
A:测定斜探头K值
B:测定直探头盲区范围
C:测定斜探头分辨率
D:以上全部
出自：无损探伤工

提示：
同一【IP】的非会员用户每天可免费获取10次答案

收藏本站【zk.995w.com】，下次访问不迷路

本站试题总数:【10244552】个 (题库试题定时更新)