CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）
A:测定斜探头K值
B:测定直探头盲区范围
C:测定斜探头分辨力
D:以上全是
出自：无损检测技术资格人员

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