按JB/T4730.5-2005标准，荧光渗透检测去除操作时，在紫外线灯照射下采用边观察边去除的方式，这是为了（）
A:便于观察缺陷显示
B:提高观察时的背景可见光照度
C:便于观察显示形成过程
D:防止过度去除，同时防止去除不足
出自：无损检测技术资格人员

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