在相同检测条件下，同一缺陷所在试件位置越靠近底片侧时，则（）
A:其影像放大得越大，而其几何不清晰度变大
B:其影像放大得越小，而其几何不清晰度变大
C:其影像放大得越大，而其几何不清晰度变小
D:其影像放大得越小，而其几何不清晰度变小
出自：无损检测技术资格人员

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