X线头影测量的主要应用有（）
A:可研究颅面生长发育
B:可对牙、颅面畸形作诊断分析
C:可确定错畸形的矫治设计
D:可用于研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化
E:可作为外科正畸诊断和矫治设计依据
出自：口腔科住院医师

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