单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为（）
A:近场干扰
B:材质衰减
C:盲区
D:折射
出自：建设工程质量检测人员（钢结构）

提示：
同一【IP】的非会员用户每天可免费获取10次答案

收藏本站【zk.995w.com】，下次访问不迷路

本站试题总数:【10249282】个 (题库试题定时更新)