自考题库
首页
所有科目
自考历年真题
考试分类
关于本站
游客
账号设置
退出登录
注册
登录
搜索
CT成像的依据是()
A:横断面图像观察的特性
B:X线的吸收衰减特性
C:探测器的模数转换功能
D:多幅照相成像原理
E:多方位成像技术
出自:
CT技师
显示答案
提示:
同一【IP】的非会员用户每天可免费获取10次答案
收藏本站【zk.995w.com】,下次访问不迷路
本站试题总数:【10244422】个 (题库试题定时更新)