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关于铜屏蔽层电阻比的试验方法说法正确的是（）
A:用双臂电桥测量在同温下的铜屏蔽和导体的直流电阻
B:当铜屏蔽和导体的直流电阻之比与投运前相比增加时，表明铜屏蔽层的直流电阻增大，铜屏蔽可能被腐蚀
C:当铜屏蔽和导体的直流电阻之比与投运前相比减少时，表明附件中导体接点的接触电阻有增大的可能
D:用单臂电桥测量在同温下的铜屏蔽和导体的直流电阻

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出自：电力电缆工

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