对电子产品整机进行动态老化试验，错误的做法是（）。
A:常温下搁置，不接通电源
B:高温下接通电源，无输入信号
C:常温下接通电源，输入工作信号
D:高温下接通电源，输入工作信号
出自：无线电装接工

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