待试设备绕组幅频响应特性曲线中（）的变化，是分析待试设备绕组变形的重要依据。
A:波峰位置
B:波峰数量
C:波谷位置
出自：变电五通

提示：
同一【IP】的非会员用户每天可免费获取10次答案

收藏本站【zk.995w.com】，下次访问不迷路

本站试题总数:【10245629】个 (题库试题定时更新)