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X线头影测量可做的分析是()
A:颅面部生长发育
B:双侧髁突对称性
C:牙、牙合、面畸形的机制分析
D:外科正畸的诊断和分析
E:矫治前后牙合、颅面结构变化
出自:
口腔正畸高级职称
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