半导体电阻应变片在测量某一构件应变时,其电阻的相对变化主要是由( )引起。
·供桥电源的变化。
·半导体几何尺寸的变化;
·半导体电阻率的变化;
·贴片位置的温度变化;
出自：佳木斯大学语言治疗学

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