在进行纳米级测量非导体的零件表面形貌时,常采用的测量仪器为( )
·光学显微镜
·扫描隧道显微镜
·原子力显微镜
出自：佳木斯大学语言治疗学

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完成拼图验证

按住下方滑块，将拼图拖到缺口处后松开。

拼图背景，将小拼图拖到缺口处
向右拖动滑块

松手后自动验证