在进行纳米级测量非导体的零件表面形貌时,常采用的测量仪器为( )。
A
光学显微镜
B
隧道扫描显微镜
C
原子力显微镜
D
都不对
出自：河南科技大学现代制造技术(考查课)(专升本)

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完成拼图验证

按住下方滑块，将拼图拖到缺口处后松开。

拼图背景，将小拼图拖到缺口处
向右拖动滑块

松手后自动验证