出自:无损探伤工

检查工件表面缺陷灵敏度最高，所采用的电流是（）。
A:直流电
B:单相全波整流电
C:交流电
D:三相全波整流电
通过导体内的磁场与距导体中心的距离成反比。（）
（）是指探伤仪的主要性能指标。
波在1s内通过某点的次数叫做（）。
磁粉探伤中，周向磁化可采用直接通电法、（）法和支杆法（）。对零件所施加的磁场强度值，用连续法时比用剩磁法时要（）。
磁力线具有（），是（）。
探测粗糙表面的工件时，为了提高声能的传递，应选用（）。
A: 任何耦合剂
B: 粘度小的耦合剂
C: 声阻抗大，粘度大的耦合剂
D: 声阻抗小，粘度小的耦合剂
在下列裂纹中，（）毛细管作用最强。
A: 宽而长的裂纹
B: 长而填满污物的裂纹
C: 细而清洁的裂纹
D: 宽而浅的裂纹
声强级的单位是贝尔，贝尔的十分之一称为分贝。
影响照相质量的散射线是如何产生的？
难于磁化的金属具有低磁导率。
单位时间内穿过和超声波传播方向垂直的单位面积上的能力称为（）。
A:声压
B:声阻抗
C:声强
D:周期
当射线源置于容器内部环焊缝时，透照距离的选择通常首先考虑（）的要求。
波阵面中波的传播方向称为（）。
A: 波线
B: 波前
C: 波阵面
D: 波长
水平线性的好坏影响缺陷定位的精度，一般规定水平线性误差不大于2%。
下面关于A型灵敏度试验片的叙述中正确的是（）。
A:用A型试验片可以估计磁场强度的大小是否满足灵敏度要求
B:A型试验片贴在试件上时，要把有槽的一面作为外侧
C:试片上的数字15/100是表示槽的深度为100μm，宽度为15μm
D:A、B和C
波长是指在（）中，相邻两个同相位质点间的距离。
A: 两个相反波动过程
B: 同一波动过程
C: 两个平行波动过程
D: 两个垂直波动过程
（）Qm较小能获得较高的分辨力和较小的盲区。
A:机电耦合系数
B:机械品质因子
C:压电应变常数
D:压电电压常数
在磁粉探伤中对磁粉的性能要求是（）。
A:矫顽力高
B:磁导率高
C:与磁粉的粒度大小无关
D:对磁粉的颜色无要求
利用阳极侧射线照相所得到的底片几何不清晰度比阴极侧（）。
关于对A型试验片的叙述，（）是正确的。
A: 可以用来估计充磁磁场强度的大小是否满足灵敏度要求
B: 贴在试件上时，是将有槽的一面放在外侧
C: 试片上的数字15/100是表示槽的深度为100μm，宽度为15μm
D: 必须用剩磁法探伤，即在停止通电磁化后施加磁悬液到试验片上
根据JB/T4730-2005标准规定，针对特定的某台X射线探伤机，以下（）条件改变时，必须重新制作曝光曲线。
A:透照厚度
B:焦距
C:黑度
D:显影时间
一般携带式X光机采用的冷却方式是散热片。
宽束X射线透照工件时，若入射线强度为I0，未散射的射线强度为I，散射线的强度为IS，则散射比的定义为（）。
为提高观片效果，观片室的环境应尽可能地（）。
A:暗
B:亮
C:与透过底片的光亮度相同
D:以上都不对
高速电子受到阳极靶的（）阻止而产生连续X射线。
A:自由电子
B:核外壳层电子
C:核外库仑场
D:以上都不对
金属陶瓷X射线管比玻璃壳X射线管（）。
A:管内真空度高，各项电性能好
B:管内真空度低，各项电性能差
C:体积和重量大，寿命短
D:以上都不对
使电流直接从工件上通过的磁化方法是（）。
A: 支杆法
B: 线圈法
C: 磁轭法
D: 芯棒法
JB/T4730.5-2005标准规定，镀鉻试块不可用于以下情况：（）
A:检验渗透检测剂系统灵敏度
B:对用于非标准温度下的渗透检测方法作出鉴定
C:在正常使用状态下，检验渗透检测剂能否满足要求
D:检验渗透剂渗透速度
接触法探伤中，若一个斜探头在钢中产生（），则该探头在铝中产生的切变波角度（）。
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