出自:无损探伤工

下列对连续X射线的强度与靶材原子序数的关系的叙述正确的是（）。
A: 强度与原子序数成正比
B: 强度与原子序数不成正比
C: 强度与原子序数成反比
D: 强度与原子序数的二次方成正比
光子能量的增大而（）减弱。
A:康普顿效应
B:电子对
C:光电效应
D:散射效应
下面哪些是着色探伤的优点：（）
A:可用于形状复杂的工件
B:同时可检测出几个方向的缺陷
C:不需要大型设备和水电
D:可检测出近表面的缺陷
方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大。该缺陷取向可能是（）。
A: 平行且靠近探测面
B: 与声速方向平行
C: 与探测面成较大角度
D: 平行且靠近底面
超声波从材料1进入材料2，随声阻抗比Z1/Z2的增大，而透过声压（）。
A:减小
B:增大
C:不变
D:既可增大又可减小
（）方向与波的传播方向一致的波为纵波。
A: 波形转换
B: 声压反射
C: 声压透射
D: 质点振动
当管电压、管电流一定时，照射率与焦距的平方成正比。（）
超声波在介质中衰减的主要原因是什么？
为了抑制干扰信号的影响，根据下列哪种参数的差值来选择电路？（）
A:相位
B:幅度
C:频率
D:以上三种
粘度对渗透剂的某些实际使用来说具有显著的影响，下列（）粘度是个重要因素。
A: 污染物的溶解度
B: 渗透剂的水洗性能
C: 发射的荧光强度
D: 渗入缺陷的速度
在任何情况下工件都要先退磁。（）
下面是压力容器焊接接头设计原则的叙述，正确的是：（）
A:不宜采用十字接头
B:不应在不锈钢壳体上直接焊碳钢支架
C:对低温压力容器和受交变载荷的压力容器必需采用全焊透的结构
D:可以采用十字接头
试块的最小几何尺寸根据（）。
A:探头耦合面几何尺寸来决定
B:根据试块材料决定
C:几何尺寸可能产生的干扰杂波必须比参考回波迟到4λ以上
D:以上都不对
超声波探伤能够检查钢制工件，但不能检测塑料物质。
（）用湿法荧光磁粉探伤进行检验比干法好。
A:零件大而笨重时
B:需要提高检验速度和灵敏度时
C:欲使许多车间配备的荧光灯投入使用时
D:被检零件要在现场焊接组装时
几何不清晰度的数学表达式为：（）。
无损探伤其涵义是探测和发现缺陷；无损检测其内涵不仅仅是探测缺陷，还包括测试试件的一些其他信息，例如结构、性质、状态等，并试图通过检测掌握更多的信息。无损检测包涵无损探伤，所以（）。
A: 无损探伤是无损检测的母集
B: 无损探伤是无损检测的子集
C: 无损检测与无损探伤是同一个概念
D: 无损检测与无损探伤无关联
X射线与可见光的主要区别仅仅是振动频率不同。
按表面张力系数大小排列水、苯、酒精、醚的顺序是（）。
A:水＞苯＞酒精＞醚
B:苯＞醚＞水＞酒精
C:苯＞水＞酒精＞醚
D:醚＞水＞苯＞酒精
渗透探伤方法按显象剂种类的不同可分为（）显象剂、湿式显象剂、快干式显象剂、不用显象剂。
超声波在传播过程中遇到一个障碍物时，如果障碍物的尺寸小于超声波的波长，则（）。
A:障碍物对超声波的传播几乎没有影响
B:波到达障碍物后形成新的波源向四周发射
C:超声波将发生反射、折射和透射
D:有如射波的反射和透射
硬磁材料指具有高磁导率、低剩磁和低矫顽力的材料，容易磁化，也容易退磁
厚工件中的（），即使透照方向适当，也不能被检出。
探头指向角是晶片尺寸和介质中波长的（）。它随频率的增加、晶片直径的减小而（）。
一般情况下，射线胶片固有不清晰度大小随着射线（）的变化而增大。
A:能量
B:强度
C:指向性
D:工件厚度与焦距的比值
焊缝探伤中探头角度选择主要的依据是（）。
A:探测频率
B:缺陷方向
C:缺陷部位
D:钢板的厚度
无损检测不需要损坏试件就能完成检测过程，因此无损检测能够对产品进行（）。
A: 指定区域的检验
B: 抽样检验
C: 百分之百检验或逐件检验
D: A、B和C
X光机的额定管电压为250 kV，则X光管的最高工作电压是（）。
A: 250 kV的有效值
B: 250 kV的平均值
C: 250 kV的均方根值
D: 250 kV的峰值
被磁化的工件表面有一裂纹，使裂纹处吸引磁粉的原因是（）。
A: 矫顽力
B: 漏磁场
C: 多普勒效应
D: 裂纹处的高应力
（）是指探伤仪荧光屏上反射波高从满幅降至消失时，仪器衰减器的变化范围。
A:探测距离
B:动态范围
C:垂直线性
D:水平线性
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