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出自:无损探伤工
对逆磁性和顺磁性导体,通常可用磁粉探伤方法检验
原子的组成部分为()。
A:质子、电子、中子
B:质子、电子、γ射线
C:光子、电子、中子
D:原子、质子、电子
X光机额定管电压为200kV,该机的最高工作电压为()。
()是指超声波在介质中传播时,由于介质的粘滞性而造成质点之间的内摩擦,从而一部分声能变成热能,导致声能的损耗。
原子核外电子能级最高的是 ()。
A:外壳层
B:中间壳层
C:内壳层
D:以上均不是
如果磁悬液的浓度过大,会引起()。
A:掩盖掉缺陷的磁痕
B:使衬度变好
C:检测灵敏度更高,没有什么坏处
D:不得不增加磁化电流
X射线束的强度仅由打到钨靶上的()决定。
K值是指斜探头折射角的()。
ROB250VIS探伤系统检验的钢材长度应在4m~12m
实际上,即使在同一照射场内,实际焦点在不同的射线透照方向上所形成的有效焦点尺寸是不同的。()
用喷嘴喷洒磁悬液的压力,对()有很大影响。
磁力线的特征是()。
A: 磁力线彼此不相交
B: 磁极处磁力线最稠密
C: 具有最短路径,是封闭的环
D: 以上三点都是
在射线照片上影像黑度很低(近乎透明)、具有成片分布和平滑轮廓特点的斑点状影像,很可能是()。
A:显影斑点
B:定影斑点
C:平滑的轮廓
D:以上都可能
液体渗透技术适应于检测非多孔性材料的()。
A:近表面缺陷
B:表面和近表面缺陷
C:表面缺陷
D:内部缺陷
最适合于检测表面缺陷的电流类型是()。
A: 直流
B: 交流
C: 脉动直流
D: 半波整流
电磁波波长λ的数字计算公式为()。
A:λ=ch
B:λ=c/v
C:λ=h v
D:λ=cv
当晶片直径D远大于波长时,近场长度N=()。
漏磁场与下列()因素有关。
A:磁化的磁场强度与材料的磁导率
B:缺陷埋藏的深度、方向和形状尺寸
C:缺陷内的介质
D:以上都是
横波入射时使同介质中的纵波反射角等于()时的横波入射角称为()。
引起影像模糊的因素很多,大致有几何条件产生的半影影响、胶片的粒度、射线的能量及()。
在检查空心零件内表面纵向缺陷时,应该使用()磁化法。
A:零件直接通以磁化电流
B:零件置于线圈中
C:电流通入中心导体
D:电流增大
超声仪中使用校准过的衰减器的目的是()。
A: 控制探头角度
B: 扩大仪器的动态范围
C: 扩大频率范围
D: 衰减供给探头的电压
在环紧温度为40℃时,磁分探伤机按规定的磁化周期工作至稳定温升或四小时后,手动操作部件,如手柄、手轮等的允许温升为()。
A:10℃
B:20℃
C:30℃
D:40℃
在进行无损检测时必须根据无损检测的目的,正确选择()。
A: 无损检测的实施时机
B: 无损检测的探伤方法
C: 选定无损检测方法所需的仪器、设备、人员、相关物资等
D: 以上各点
只有正确选用实施无损检测的时机,才能顺利地完成检测,正确评价产品质量。
计算题:用水浸聚焦探头探钢管,当要求水层高度为10mm,检查Φ40mm的钢管时,试计算透镜的曲率半径。
大功率X射线机的冷却方法采用()。
A: 气体对流冷却
B: 传导散热冷却
C: 液体强迫冷却
D: 以上都不是
连续宽束X射线透照试件,试件的厚度越大,则散射比越大,平均衰减系数()。
A:越小
B:越大
C:无变化
D:以上全对
焊缝探伤所用斜探头,当楔块底面前部磨损较大时,其K值将变大。
某些单晶体或多晶体陶瓷材料,在应力作用下产生应变时引起晶体电荷的不对称分配,异种电荷向正反两面集中,材料的晶体就产生电场和极化,这种现象称为()。
A:正压电效应
B:逆压电效应
C:压电常数
D:介电常数
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