出自:无损检测技术资格人员

渗透检测中引起灵敏度降低的是（）。
A:用蒸汽除油去除表面处理
B:用浸入法施加渗透剂
C:对已经过渗透检测的工件重新检测
D:使用后乳化型渗透剂而不使用溶剂清洗渗透剂
因操作不当，显像后发现被检工件表面本底水平太高而无法判伤时，应（）
A:擦去原显像层重新进行显像
B:立即再置于渗透剂中进行重新渗透
C:采用干式显像，重新显示
D:从预清洗开始重复渗透探伤全过程
用交流磁轭对大型结构件对接焊缝进行磁粉探伤时，需要注意的事项是（）
A:磁粉探伤部位的厚度
B:磁极对焊缝相对位置的安置及磁极间距
C:反磁场的影响
D:以上都是
适宜检测厚度5-30mm的钢试件的放射性同位素是（）
A:Ir192
B:Tm170
C:Yb169
D:Se75
材料阻挡或部分阻挡X射线和γ射线通过的能力叫做穿透
在底片上出现特殊形状的斑点影像，又称为“劳埃斑”的可能原因是（）
A:X射线在粗晶材料中发生衍射效应所致
B:X射线在细晶材料中发生折射效应所致
C:背散射所致
D:侧面散射所致
使用微距镜头近距离拍摄时景深范围（），宜使用（）光圈
（）类型的材料可用渗透法进行检验。
A:任何非多孔材料，金属或非金属
B:任何多孔性材料，金属或非金属
C:以上均不能
若钢锭中存在非金属夹杂物，热加工后的试件上就有可能形成裂纹及分层显示。
最广泛使用的像质计型式主要是（）
A:丝型像质计
B:阶梯孔型像质计
C:平板孔型像质计
D:以上都是
铸件上由于厚薄截面冷却度不同而产生的宽度不均匀，有许多分枝的线状显示，最可能是（）。
A:疏松
B:冷隔
C:热裂
D:折叠
对灵敏度标准试片施加磁粉时，在任何场合都要使用连续法进行。
未曝光的胶片经暗室处理后得到的黑度值称为胶片灰雾度
对小口径薄壁管采用双壁透照双面成像时，有效透照长度（）。
A:与时间成正比
B:与电压成正比
C:与焦距基本无关
D:与电流成正比
因工件表面粗糙使超声波束产生的漫射叫（）
A:角度调整
B:散射
C:折射
D:扩散
按ZBJ04005-87标准，对缺陷显示迹痕的等级分类，线状和圆状缺陷显示迹痕按（）个等级分类
A:3
B:5
C:7
D:9
射线照像影像会放大，下面叙述中正确的是（）
A:射源至试件距离越远，影像放大得越大
B:射源至试件的距离与试件至底片距离之比越大，影像放大得越大
C:射源至试件的距离与试件至底片距离之比越小，影像放大得越大
D:射源至试件的距离与影像放大无关
在黑光灯旁工作时，要防止未经滤光的（）直接射至眼中
从给定射源发射的γ射线，通过物质时引起的吸收取决于（）
A:物质的原子序数，密度和厚度
B:物质的杨氏模量
C:半衰期
D:放射源的比活度
亲水性是乳化剂的一个重要指标，常用HLB值表达，即（）（a-亲水基部分的分子量；b-乳化剂的分子量）
A:HLB=20a/b
B:HLB=20b/a
C:HLB=20ab
D:HLB=20a2/b
声速主要取决于（）
A:密度
B:弹性
C:a和b都是
D:声阻抗
气泡泄漏检测涂复泄漏检测溶液可容许的方法是（）
A:用刷子刷；
B:喷雾器喷涂；
C:喷射瓶喷涂；
D:上述三种方法都可以。
超声频率不变，晶片面积越大，超声的近场长度越短。
渗透检测适合于检验非多孔性材料的（）。
A:内部缺陷
B:近表面缺陷
C:表面开孔缺陷
D:表面缺陷
影响渗入表面缺陷速度的主要因素是（）
A:润湿能力
B:粘度
C:密度
D:挥发能力
E:a和b
针孔成像形成的是何种的影像（）
A:形状相同上下颠倒
B:形状，比例与方向均相同
C:形状相同，比例与方向不同
D:以上都是
涡流检验方法的一个主要问题是（）.
A:涡流试验不能准确测量电导率；
B:需要低速试验以防漏检；
C:在输出显示中出现大量的已知或未知的变量；
D:涡流试验不能检出小缺陷
R10系列的象质计，相邻两金属丝的直径变化遵循的公式为（）（d一金属丝直径，Z一象质指数z）。
A:dz-1＝1.25dz
B:dz-1＝0.8dz
C:dz+1＝1.25dz
D:以上都不对
γ射线探伤机与Χ射线探伤机相比其优点是（）
A:设备简单
B:不需外部电源
C:射源体积小
D:以上都是
使用过的零件进行渗透检验，阳极化层可不去除。
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