出自:无损检测技术资格人员

下列关于触头法的叙述中，正确的是（）。
A:电极间距70～150mm
B:电极间距75～200mm
C:电极间距80～250mm
D:电极间距85～300mm
下列哪项对涡流检测是不合适的？（）
A:要高速检测
B:要正确测量电导率
C:对小缺陷要有很高的灵敏度
D:要透入到试样6厘米处
黑光灯的强度应用什么测量？（）
A:带10倍扩程器的光度计
B:带琥珀场滤波器的光度计
C:调节到3425×10-10m的光度计
D:额定值为M2的光度计
在金属凝固过程中，未逸出的气体所形成的孔叫做（）
A:破裂
B:冷隔
C:分层
D:气孔
射线透照厚度1.25英寸的铸件，射线底片上显示出ASTM20#像质计的2T孔，则该底片的当量灵敏度为（）
A:0.8%
B:1.6%
C:2.4%
D:3.2%
下列辐射射线中，电离破坏性最大的是：（）
A:X射线和射线； 
B:粒子； 
C:粒子； 
D:中子。
铁磁质在磁化过程中B和H的关系可以用B-H曲线来表示。我们称B-H曲线为（）；由H=0、B=0的原点至B的最大值一段曲线叫作（）；当磁化磁场在正负两个方向上往复化时时，就形成封闭的磁化曲线，称为（）；在这一过程中，磁感应强度的变化落后于磁场强度变化的现象称为（）
由于X射线机的电压峰值（KVP）容易使人误解，所以X射线机所发出的射线能量用电压的平均值表示。
以下关于衰减系数的说法错误的是（）
A:常用衰减系数μ来表征射线强度减弱的快慢
B:物质原子序数越大，衰减系数越大
C:对于同一种物质，射线能量不同时衰减系数是相同的
D:射线能量越高，衰减系数越小
试件的几何形状或磁导率的变化等形成的磁痕是无关显示
含铁材料涡流检验遇到表面缺陷时，材料中有少量可检测出的磁通量漏到金属外部，这部分磁能量叫做（）.
A:空气磁通；
B:漏磁通；
C:感应磁通；
D:以上都不是.
下列哪种缺陷可以归类为制造工艺缺陷？（）
A:疲劳裂纹
B:应力腐蚀裂纹
C:分层
D:热处理裂纹
磁强计可以用来测定零件退磁后的剩余磁场强度大小。
JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕显示的记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录，同时应用草图标示。
简述制定质量验收标准的常用方法。
射线照射到胶片上时，由于卤化银颗粒发生光化反应，在晶格缺陷处沉积出（）形成潜像。
A:卤化银分子
B:呈原子态的银
C:呈离子态的银
D:以上都不对
NB/T47013.3-2015标准对于Ⅱ型焊接接头超声检测未规定横向缺陷检测，其原因是管子环向对接接头一般不会产生横向裂纹。
把试件放入一个线圈中，使通过线圈的交流电逐渐降低进行退磁时，试件长轴方向沿东西方向的情况下最有利
中子辐射具有独特的穿透能力，但容易被（）吸收。
A:重金属
B:铅
C:含氢物质
D:铝
当发现计量器具超差时：（）
A:应将所测试的物项追回；
B:将超差的计量器具检修、检定；
C:对被测试物项重新检查；
D:以上说法都对。
对试件进行水洗型渗透检测时，如果硫或氯的残余对试件有害则应（）
A:使用低硫或低氯的渗透液，渗透检测后用溶剂擦洗
B:用洗涤剂清洗试件
C:使用低硫或低氯的渗透液，渗透检测后立即用水、洗涤剂进行清洗
D:使用着色渗透液，这样任何残余物都能因看得见而被去除
材料的声阻抗（）
A:与密度成正比，与声速成反比
B:与密度成反比，与声速成正比
C:与密度和声速成反比
D:等于密度和声速和乘积
毛细作用使渗透剂渗透到细小而清洁的裂纹中的速度比它渗透到宽裂纹中的速度更快
用铅箔增感屏得到的底片，物体影像的清晰度不好，要想改善其清晰度，可以（）
A:改用粗粒胶片
B:改用大焦点射线源
C:增大射线源到胶片的距离
D:改用荧光增感屏
超声波检测的范围（）
A:焊缝
B:热影响区
C:焊缝及热影响区
D:焊缝及焊缝两侧各20mm内
胶片在定影后，应在流动的清水中冲洗20min～30min，冲洗的目的是（）
A:将胶片表面和乳剂膜内吸附的硫代硫酸钠以及银盐络合物清除掉
B:水洗不充分会生成硫化银，硫化银会使射线底片发黄
C:为使射线底片具有稳定的质量，能够长期地保存
D:以上都对
产生旋转磁场的必要条件是什么？
垂直通过一个截面S的磁力线总数称为磁通量
为什么建议对厚度>6mm的工件不要使用直流电磁轭进行检测？
产生显影斑痕的原因是什么？（）
A:显影液浓度不均匀，胶片上部分药膜显影过度
B:显影温度不稳定，波动过大
C:显影液氧化失效
D:显影时搅拌不均匀
E:以上都是
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