出自:无损检测技术资格人员

ASME规范关于象质计的有关规定是（）
A:只能选用平板孔象质计
B:只能选用金属丝型象质计
C:两种象质计均可使用
D:板厚2英寸以下任意选择丝型或孔型，但2英寸以上必须使用孔型。
无损检测工艺卡应由Ⅲ级人员编制、审核。
为减小超声波通过介质时的衰减和避免林状回波，宜采用较低频率和纵波进行探伤。
小直径棒材探伤可不用对比试块。
一台经校准好的超声波探伤仪，其垂直线性误差应为（）
A:＞8%
B:≤8%
C:20分贝
D:6分贝
以下关于X射线照相曝光曲线形式的说法正确的是（）
A:横座标表示工件的透照厚度
B:纵座标（对数座标）表示曝光量（毫安与时间的乘积）
C:用一组斜线表示相应的管电压值时的透照厚度和曝光量之间的关系
D:以上都对
物质半价层的数学表达式为（）。
A:dl／2＝0.693λ
B:dl／2＝θ.693／μ
C:dl／2=I0e－λT
D:以上都不是
什么是“滤光板”？
放射性元素Co60转变为Ni60的过程是一次（）
A:α衰变
B:β衰变
C:γ衰变
D:K俘获
线圈法纵向磁化，会在工件两端形成磁极，因而产生退磁场。
放射损伤是一定量的电离辐射作用于机体后，受照机体所引起的（）
A:物理反应
B:化学反应
C:病理反应
D:毒性反应
选择作为参考标准的试样时，下面哪种状态是不重要的？（）
A:试样尺寸和形状应与被检零件相同；
B:试样热处理应与被检零件相同；
C:试样表面光洁度应与被检零件相同；
D:如果材料是铝的，则表面应阳极化.
假设通过某金属原子的中心划出许多空间直线，所形成的格架称为该金属晶体的（）
A:晶粒
B:晶胞
C:晶格
D:晶体结构
在常用的100KV-400KVX射线能量范围内，铅箔增感屏的增感系数随其厚度的增大而减小。
超声波垂直入射至异质界面时，反射波和透射波的波型（）
下列几条中哪一条是渗透探伤中进行干燥处理的一个目的？（）
A:保证多余的渗透剂都蒸发掉
B:保证施加在湿乳化剂上的干式显像剂均匀干燥
C:缩短渗透时间
D:施加湿式显像剂后，干燥处理有助于形成均匀的显像剂涂层
接触法垂直探伤中，造成底波幅度降低的原因可能是（）
A:耦合不良
B:存在与声束不垂直的缺陷；
C:存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷
D:以上都是
下面关于涡流检测直流磁饱和的叙述中，指出正确的句子（）.
A:用来抑制因强磁性材料加工引起的磁导率不均匀而造成的杂乱信号
B:用来降低强磁性材料的磁导率，从而减小涡流的集肤效应
C:用来抑制试件表面凹凸不平所引起的杂乱信号
D:用来提高强磁性材料的磁通密度，从而提高探伤灵敏度
E:A和B是正确的
按ASME第八章附录4圆形显示的接受标准，下列哪种圆形显示可由电焊产生？（）
A:气孔
B:夹渣
C:夹钨
D:以上都是
按JB1152-81标准规定，焊缝超声波探伤时，探测灵敏度应不低于（）
A:定量线
B:测长线
C:判废线
D:Φ2线
锻件中的粗大晶粒可能引起（） 
A: 底波降低或消失
B: 噪声或杂波增大
C: 超声严重衰减
D: 以上都有
波长相同的Χ射线和γ射线具有相同的性质。
去除渗透液前，试件必须被渗透液湿润多长时间（）。
A:时间长短取决于使用的渗透液种类，被检验材料的种类、要求的灵敏度和欲检测的缺陷的种类
B:由于渗透液在若干秒钟就能渗入任何尺寸的露出表面的缺陷中，所以施加渗透液后，应尽快开始去除渗透液
C:3分钟
D:10分钟
磷、硫属于钢中的有害元素。
焊缝金属与母材金属或焊缝金属之间未结合在一起而形成的焊接缺陷，叫未焊透。
单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为：（）
A:近场干扰
B:材质衰减
C:盲区
D:折射
超过人耳听觉范围的声波称为超声波，它的频率高于（），属于（）
在显影液的组分中，几奴尼属于（）
A:显影剂
B:保护剂
C:加速剂（促进剂）
D:抑制剂
渗透探伤检查时能指示工件表面缺陷的（）
A:深度
B:长度
C:宽度
D:位置和形状
E:b和d
亲水型乳化剂浓度越高，乳化能力越强，乳化速度越快。
首页 <上一页 278 279 280 281 282 下一页> 尾页