出自:无损探伤工

管电压为150kV时，辐射的X射线光子能量最大为（）。
A:150eV
B:15MeV
C:1.5MeV
D:0.15MeV
热裂纹产生的主要原因是熔池在结晶过程中，存在着（）。
A:淬硬组织
B:焊接拉应力
C:焊接压缩应力
D:低熔点共晶物和杂质
（）的大小可以改变仪器的灵敏度。
A:重复频
B:电压值
C:粗晶铸件
D:以上都不对
流线是常用来形容（）的术语。
A:磁场强度
B:零件的形状
C:板材分层缺陷的磁粉图形外观
D:使用过大的磁化电流而产生的磁粉图形
对小口径薄壁管采用双壁透照双面成像时，有效透照长度与焦距成正比。
超声波垂直入射到异质界面时，反射波和透过波的声能声强分配比例由声强反射率和声强透过率来表示，它仅与界面两侧介质的（）有关
增感屏有（）。
A: 金属增感屏
B: 荧光增感屏
C: 金属荧光增感屏
D: 以上都对
波在传播过程中，遇到障碍物或其他不连续的情况，会产生反射、折射和透射等现象。
射线不受电磁场的影响。（）
X射线荧光屏法的优点是射线探伤的优点是（）。
A:检验速度快、操作简单
B:无胶片处理过程
C:容易改变照射角度
D:以上都是
白点是一种细微的裂纹，它是由于（）因素而产生的。
A: 钢中含氢量较高
B: 锻造过程中的残余应力
C: 热加工后的相变应力和热应力
D: 以上各点
组成直探头的主要无件有（）等。
A:压电晶片、电极层
B:吸收块
C:保护膜、外壳
D:以上都是
斜探头向工件中辐射的横波，是基于压电效应由PZT晶片直接激发出来的。（）
用试块的方法校准仪器探测灵敏度时，为避免修正，则应采用（）。
A: 曲面试块
B: 对比试块
C: 标准试块
D: 通用试块
斜探头探测两个表面光滑平整、相互平行，但与入射声束取向不良的缺陷。其当量为面积小于声束截面的当量反而（）。
探伤前必须调校仪器灵敏度，探头置于试块上，主声束垂直扫查人工缺陷，找出最高反射法，将反射回波的幅度调到标准要求的高度。
检测晶粒粗大的材料应使用（）的探头。
在吸收剂量相同的情况下，α射线对人体的危害最大。
活塞波声源的声束轴线上最后一个声压极大值到声源的距离是（）。
A:1N
B:N/2
C:N/3
D:以上都不对
焊缝超高、过宽、错边、塌陷、向母材过渡不圆滑等缺陷属于焊缝的内部缺陷。
在制造和安装时，超声检测钢制承压设备对接焊接接头，发现缺陷后对缺陷的测定，下列叙述错误的是：（）
A:应测定缺陷尺寸，判断出缺陷类型和缺陷性质
B:应测定缺陷尺寸，判断出缺陷类型
C:对位于定量线及定量线以上的缺陷测定缺陷尺寸（指示长度、高度）、波幅，并定出级别
D:对位于定量线及定量线以上缺陷测定出缺陷尺寸（指示长度）、波幅，并定出级别
相同能量的X射线与γ射线的唯一区别是（）。
A: 生物效应
B: 产生原因
C: 波长
D: 穿透材料能力
压力容器使用材料的要求是（）。
A:足够的强度
B:较高的屈服极限
C:良好的韧性
D:以上都对
宽容度大的胶片，其对比度低。
下面说法是错误的：（）
A:显像剂均是溶液
B:渗透剂是溶液
C:溶剂清洗剂是悬浮液
D:显像液是乳状液
焦距越小 （）。
A: Ug越大
B: Ug越小
C: Ug不变
D: Ug是某一常数
根据（）和（）进行缺陷定量时，回波高度的测量应在仪器的（）以及（）的状态下进行。
磁粉的矫顽力越小越（）。
渗透检测适用于表面、近表面缺陷的检测
检验玻璃时，为了发现非常细小的裂纹应采用（）。
A:后乳化型荧光渗透法
B:可水洗型荧光渗透法
C:后乳化型着色渗透法
D:带电粒子法
首页 <上一页 12 13 14 15 16 下一页> 尾页